کنترل رفتار ارتعاشی تیرک میکروسکوپ نیروی اتمی در حضور عدم قطعیتهای دینامیکی و پارامتری

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 878

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EASTTEHRANMECH01_244

تاریخ نمایه سازی: 2 اسفند 1389

چکیده مقاله:

هدف از این مقاله طراحی یک کنترلکنندهی مقاوم، جهت کنترل رفتار ارتعاشی تیرک میکرسکوپ نیروی اتمی در حالت ضربهای، میباشد. اهداف اصلی مدار کنترلی، دنبال کردن ورودی مرجع و از بین بردن اثر اغتشاشات در محدودهی مطلوب میباشند. جهت طراحی کنترلکنندهی مناسب ، نیاز به مدل سازی دقیق تیرک میکروسکوپ می باشد. در این مقاله جهت ساده سازی مدار کنترلی از یک مدل سادهی جرم و فنر جهت مدلسازی تیرک میکروسکوپ استفاده میشود. این ساده سازی یک سری از عدم قطعیت ها ، مربوط به دینامیکهای مدل نشده را به همراه دارد که برای شبیهسازی دقیق نیاز است این عدم قطعیت ها در مدار کنترلی در نظر گرفته شوند. از سوی دیگر با توجه به کراندار، ولی نامشخص بودن نیروی برهم کنش سوزن نمونه، این نیرو با یک عدم قطعیت پارامتر در نظر گرفته میشود. در این مطالعه از کنترل کننده ی H∞جهت طراحی مدار کنترل در حضور عدم قطعیتها استفاده میشود.

کلیدواژه ها:

میکروسکوپ نیروی اتمی ، کنترل مقاوم ، عدم قطعیت پارامتریک و دینامیکی

نویسندگان

پوریا نام اوران

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکدهی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران

امیرحسین دوایی مرکزی

دانشیار، دانشکدهی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Burnham N.A., Behrend O.P., Oulevey F., Gremaud G., Gallo P.J., ...
  • Anczykowski B., Gotsmann B., Fuchs H., Cleveland J.P., lings V.B., ...
  • Rabe U., Janser K., Arnold W., 1996, Vibrations of free ...
  • Hirsekor S., Rabe U., Arnold W., 1996, Near- field acoustic ...
  • Zhong J., Xi N, Li G., 2006, Atomic Force Microscopy ...
  • Lee S. I., Howell S. W., Raman A., Reifenberger R., ...
  • نمایش کامل مراجع