بررسی تاثیر استفاده از نانولوله کربنی بر تحمل پذیری خطای حافظه ها و مقایسه آنها با روش های فعلی ساخت حافظه ها
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,164
فایل این مقاله در 11 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
AISST01_032
تاریخ نمایه سازی: 5 مرداد 1392
چکیده مقاله:
تولید و ساخت حافظه ها یکی از بزرگترین بخش های صنعتی است. اما با مشکلات فنی متعددی نیز مواجه است مشکلاتی از قبیل نشت بار از خازن و ساختارهایی با پیچیدگی فزاینده و نیز حساسیت به خطاهای مختلفی که در مراحل کار با تجهیزات ذخیره داده ممکن است رخ بدهد سبب می شود تا سازندگان تراشه نتوانند بیش از این ابعاد تراشه های خود را کاهش دهند. همچنین مسائل قابل توجه دیگری که در این زمینه وجود دارد عبارتند از: تراشه های SRAM مربوط به سلول های بزرگ حافظه ، مشکل قرار دادن DRAM و حافظه فلش در کنار تراشه های منطقی و کندی زمان دسترسی به حافظه فلش و پایداری محدود آن است. این در حالی است. این در حالی است که رویکرد فشرده سازی بیش از پیش باعث به وجود آمدن خطاهای ناخواسته مانند همشنوایی در بین ارتباطات داخلی در حافظه شده است. و همچنین علاقه کاربران برای داشتن حافظه هایی با عمر طولانی باعث توجه دانشمندان به تکنولوژی های جدیدی گردیده که توانایی های زیادی برای رسیدن به این اهداف دارند. یکی از مهمترین این دستاوردها، نانو تکنولوژی است که در صنعت حافظه بسیار مفید به چشم آمده و توجهات زیادی را به خود معطوف کرده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
بهزاد لطفی
استاد هیئت علمی موسسه آموزش عالی حکیم نظامی قوچان
فرزانه غلام فرخانی
دانشجوی مهندسی کامپیوتر
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :