ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی
محل انتشار: هفتمین کنگره سرامیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,617
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICC07_118
تاریخ نمایه سازی: 10 فروردین 1388
چکیده مقاله:
در این تحقیق عوامل خطا در آنالیز شیشه های اوپال به روش فلورسانس اشعه ا یکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت. حضور فازها ی کریستالی در شیشه های اوپال و ماتریس پیچیده این شیشه آنالیز دقیق آن را با مشکلات فراوانی روبه رو می سازد. در این مقاله به کمک مدل پارامترهای اس اسی، اثر ماتریس نمونه برروی آنالیز مواد چند جزئی با فلورسانس اشعه ایکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت و ضرایب تأثیر i.ja که بر پایه فلورسانس اولیه و ثانویه می باشد، محاسبه گردید. با اعمال این مدل ریاضی و مقایسه آن با نمونه استاندارد SRM-01 نتایج قابل قبولی برای آنالیز شیشه اوپال بدست آمد. با بررسی داده های بدست آمده نتیجه گیری می شود که از اثر فلورسانس اولیه و ثانویه در مورد آنالیز Ba,Ca,Na,F,Si,Al,Zr,Fe در شیشه اوپال نمی توان صرفنظر کرد . همچنین با مطالعه فازها ی کریستالی تشکیل شده در ا ین شیشه با استفاده از XRD علت انحراف در آنالیز اکسیدی عناصر آشکار و ضریب تصحیح آنها نیز محاسبه گردید.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مهرداد دهرآزما
آزمایشگاه تکنولوژی شیشه، شرکت سپیده جام توس (گروه کارخانجات مقصود) شه
رضا ظهیری
دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان
پژمان خورشیدی
دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان گروه شیمی دانشگاه آزاد ا
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :